接觸電阻測(cè)量是電氣測(cè)試的重要內(nèi)容之一，常用的方法有直流電橋法、電流電壓法等。我們根據(jù)電氣設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)的要求，結(jié)合GB763－74和IEE694－84的標(biāo)準(zhǔn)，研制開(kāi)發(fā)了HLY型回路電阻測(cè)試儀，接觸電阻測(cè)試儀。本儀器可方便地進(jìn)行接點(diǎn)和開(kāi)關(guān)設(shè)備的接觸電阻以及載流導(dǎo)體電阻的測(cè)試。本儀器操作方便，測(cè)試準(zhǔn)確直觀(guān)。

回路電阻的測(cè)量

主回路

為了把做過(guò)溫升試驗(yàn)(型式試驗(yàn))的開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備與所有進(jìn)行出廠(chǎng)試驗(yàn)的同一型號(hào)的開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備進(jìn)行比較，應(yīng)該進(jìn)行主回路電阻的測(cè)量。

應(yīng)用直流測(cè)量每子間的電壓降或電阻。對(duì)于封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備應(yīng)該作特殊考慮。

試驗(yàn)電流應(yīng)該取100A至額定電流之間的任一電流值。

注：經(jīng)驗(yàn)表明，僅憑主回路電阻增大不能認(rèn)為是觸頭或聯(lián)結(jié)不好的可靠證據(jù)。此時(shí)，應(yīng)該使用更大的電流(盡可能接近額定電流)重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)。

直流電壓降或電阻應(yīng)在溫升試驗(yàn)前在開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備所處的周?chē)諝鉁囟认逻M(jìn)行一次測(cè)量；溫升試驗(yàn)后，當(dāng)開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備冷卻到周?chē)諝鉁囟葧r(shí)再測(cè)量一次，兩次所測(cè)得的電阻值的差不應(yīng)大于20%。

型式試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出直流電壓降或電阻的測(cè)量值，以及試驗(yàn)時(shí)的一般條件(電流、周?chē)諝鉁囟取y(cè)量部位等)。

輔助回路

1、大電流：采用新電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。

2、使用壽命長(zhǎng)：全部采用高精度電阻，有效的消除環(huán)境溫度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，同時(shí)接插件的使用增強(qiáng)了抗振性能。

3、采用新型大電流開(kāi)關(guān)電源，功耗低、效率高、發(fā)熱小，輸出電流穩(wěn)定。

4、攜帶方便：體積小、重量輕。

1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)電阻的測(cè)量

將1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)的每種類(lèi)型的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開(kāi)路電壓為6V(相對(duì)偏差為-15%)的直流電源，使其流過(guò)10mA的電流，按GBT5095.2-1997的試驗(yàn)2b測(cè)量其電阻。

閉合的1級(jí)和2級(jí)輔助觸點(diǎn)的電阻不應(yīng)超過(guò)50。

注：觸頭材料出現(xiàn)的氧化可能會(huì)降低有效的載流能力，因此可能導(dǎo)致接觸電阻的增加，甚至在非常低的電壓回路中不能導(dǎo)通，而在較高的電壓回路中又沒(méi)有出現(xiàn)問(wèn)題。

本試驗(yàn)的目的是為了檢驗(yàn)在這些低電壓條件下觸頭的接觸性能。評(píng)估的判據(jù)考慮了電阻的非線(xiàn)性。50的數(shù)值源于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)并已被用戶(hù)接受。

3級(jí)輔助觸點(diǎn)電阻的測(cè)量

將3級(jí)輔助觸點(diǎn)的一個(gè)樣品接入阻性負(fù)載回路，然后加上開(kāi)路電壓≤30mV的直流電源，使其流過(guò)≤10mA 的電流，按正IEC61810-7測(cè)量其電阻。